Коэффициент рассеяния (Scattering  coefficient)   —  коэффициент, определяющий степень уменьшения (по экспоненциальному закону) амплитуды упругой волны вследствие рассеяния при прохождении волной единицы расстояния в среде. Обычно выражается в дБ/м, иногда в Нп/м.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]

Коэффициент усиления (Intensifying   factor)  — отношение длительности экспозиции без усиливающих экранов к длительности экспозиции с усиливающими экранами при одинаковых прочих условиях и при получении одинаковой оптической плотности.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Коэффициент усиления яркости радиационно-оптического преобразователя      (Intensification   factor)  — отношение значения яркости выходного экрана радиационно-оптического преобразователя к значению яркости эталонного флуоресцентного экрана при одинаковых заданных условиях радиационного облучения входной плоскости преобразователя и флуоресцентного экрана.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Край пучка (Beam   edge)   —  граница акустического пучка в дальней зоне, на которой звуковое давление уменьшается до определенной части своего значения на оси пучка.

Примечание.  Имеет форму конической поверхности.

 [Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]

Кривая характеристическая (пленки) [ Charasteristic   curve  (of   a   film)]  — кривая, показывающая соотношение между десятичным логарифмом экспозиции lg К  и  оптической плотностью D  .

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Кристалл  Y -среза (Y  —  cut   crystal)  —  пластина из монокристаллического пьезоэлектрического материала (обычно кварца), вырезанная таким образом, что ее кристаллографическая ось Y  перпендикулярна поверхностям с нанесенными на них электродами. Используется в качестве излучателя и (или) приемника поперечных волн.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва, 2003 г.]

Кристалл Х-среза (X  —  cut   crystal)  — пластина из монокристаллического пьезоэлектрического материала (обычно кварца), вырезанная таким образом, что ее кристаллографическая ось Y перпендикулярна поверхностям с нанесенными на них электродами. Используется в качестве излучателя и (или) приемника продольных волн.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва, 2003 г.]

Критерии приемки (acceptance criteria) — критерии, по которым образец исследуется для того, чтобы определить его приемлемость.

[СТ РК EN 1330-2. Контроль неразрушающий. Терминология. Часть 2.  Термины, применяемые для всех методов неразрушающего контроля]

Критерий допуска (acceptance criteria) — критерий, на основании которого устанавливается пригодность образца продукции.

[ГОСТ Р 53697-2009 (ISO/TS 18173:2005). Контроль неразрушающий. Основные термины и определения]