Период полураспада (Half  life)  –  время, в течение которого активность радиоактивного источника спадает до половинного значения.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Пленка для работы с экраном (Screen   type   film)   —  радиографическая пленка, предназначенная для использования с флюоресцентными усиливающими экранами.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Пленка радиографическая (Radiographic   film)   —  пленка, содержащая прозрачную подложку, обычно покрытую с обеих сторон эмульсией, чувствительной к излучению.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Плоскость дополнительная  (Additional   plane)   —  плоскость, перпендикулярная к плоскости падения волны и проходящая через луч преломленной или отраженной волны.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]

Плоскость падения волны (Plane   of   incidence)  — плоскость, проходящая через луч падающей волны и перпендикуляр к границе раздела сред в точке касания лучом этой границы.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]

Плотность вуали, оптическая (Fog   density)  — общий термин, используемый для обозначения оптической плотности обрабатываемой пленки, создаваемой причиной, отличной от непосредственного формирования изображения. Такими причинами могут быть старение, химическое воздействие, дихроизм, собственная вуаль, посторонняя экспозиция.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Площадь зоны контроля (Area   of   coverage)   —  характеристика вихретокового преобразователя, которая количественно определяет зону контроля контролируемого изделия.

Примечание.  Метод измерения указанной величины определяется процедурой контроля.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва, 2003 г.]

Подложка пленки (Film   base)   —  несущий материал, на который нанесена фоточувствительная эмульсия.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Показание значимое (relevant indication) — полученное при НК и обусловленное состоянием или типом несплошности показание, которое требует оценки.

[ГОСТ Р 53697-2009 (ISO/TS 18173:2005). Контроль неразрушающий. Основные термины и определения]

Показание ложное (false indication) — показание или сигнал, представленные в виде, применяемом в используемом методе неразрушающего контроля, интерпретируемые как вызванные причинами, не связанными с наличием несплошности или дефектности.

 [ГОСТ Р 53697-2009 (ISO/TS 18173:2005). Контроль неразрушающий. Основные термины и определения]