Чувствительность обнаружения дефекта (Flaw   sensivity)   —  минимальный размер дефекта, обнаруживаемый при конкретных условиях контроля.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Чувствительность пленочной системы (Film   system   speed) — ко личественное измерение реакции пленочной системы на энергию излучения при конкретных условиях экспозиции.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Чувствительность радиационного контроля, абсолютная (Absolute   sensitivity   of   radiation   inspection)   —  минимальное изменение значения контролируемого параметра объекта, которое может быть обнаружено с заданной вероятностью данным методом радиационного контроля.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Чувствительность радиационного контроля, относительная (Relative   sensitivity   of   radiation   inspection)   —  отношение абсолютной чувствительности к значению контролируемого параметра, устанавливаемое в конкретной задаче радиационного контроля.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Чувствительность эквивалентная (Equivalent   sensitivity)   —  чувствительность, характеризуемая эквивалентным размером обнаруживаемых несплошностей. Единицы измерения мм, мм2.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]

Широта экспозиции (Exposure   latitude)   —  диапазон экспозиции, соответствующий полезному диапазону оптической плотности снимка.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Шторки трубки (Tube   shutter)  — устройство, прикрепляемое к экрану трубки, изготовленное обычно из свинца и обычно дистанционно управляемое, используемое для управления потоком рентгеновского излучения.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения: Справочное пособие. Серия 28. Выпуск 4 / Колл.авт. — М.: Государственное унитарное предприятие «Научно-технический центр по безопасности в промышленности Госгортехнадзора России», 2003.]

Эквивалентная площадь несплошности (Equivalent   area   of   discontinuity)   —  площадь торцевой поверхности плоскодонного отверстия, расположенной в образце из материала контролируемого объекта на том же расстоянии от преобразователя, что и несплошность, и ориентированной на прием максимальной амплитуды информативного сигнала, равной сигналу от несплошности. Единица измерения мм2.

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]

Эквивалентный размер несплошности (Equivalent   size   of   discontinuity)   —  характеристический размер искусственной несплошности определенного типа, расположенной в образце из того же материала и на том же расстоянии от излучателя, что и данная несплошность, и имеющей равную с ней отражательную способность (для метода отражения) или прозрачность (для теневого метода). Единицы измерения мм, мм2.

Примечание.  Эквивалентный размер несплошности задается с указанием типа сопоставляемой с ней искусственной несплошности. Например, «обнаруженная несплошность соответствует эквивалентному плоскодонному отражателю диаметром 5 мм» или «обнаруженная несплошность соответствует эквивалентному боковому цилиндрическому отверстию диаметром 4 мм».

[Система неразрушающего контроля. Виды (методы) и технология неразрушающего контроля. Термины и определения (справочное пособие). Москва 2003 г.]