Микроскопия атомно-силовая (atomic force microscopy; scanning force microscopy (deprecated)  — метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта в результате регистрации силы взаимодействия зондового датчика (кантилевера) с поверхностью объекта в процессе сканирования.

Примечания.

1. С помощью АСМ можно исследовать объекты из проводниковых и диэлектрических материалов.
2. В процессе работы в некоторых атомно-силовых микроскопах (АСМ) перемещают образец в направлении осей х, у, z, а кантилевер остается неподвижным, в других АСМ перемещают кантилевер, оставляя неподвижным образец.
3. С помощью АСМ можно выполнять измерения в вакуумной, жидкой или контролируемой газовой средах, и исследовать объекты с атомарным разрешением в зависимости от образца, размера кантилевера и кривизны его острия, а также соответствующих настроек для получения изображений.
4. С помощью АСМ в процессе сканирования регистрируют силы, действующие на кантилевер, например продольные и поперечные силы, силы трения и сдвига. Методы АСМ имеют наименования в зависимости от регистрируемой силы, например поперечно-силовая микроскопия. Термин «атомно-силовая микроскопия» является общим термином для всех понятий методов силовой микроскопии.
5. АСМ регистрирует в конкретных точках силы, действующие на кантилевер со стороны поверхности объекта, и из массива пикселей генерирует изображение объекта.
6. Для исследования нанообъектов применяют АСМ с эффективным радиусом острия кантилевера менее 100 нм. В зависимости от материала исследуемого объекта суммарная сила между острием и объектом должна быть приблизительно 0,1 мкН, в противном случае может произойти необратимая деформация поверхности объекта и повреждение острия кантилевера.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения]

Микроскопия сканирующая, зондовая (scanning probe microscopy) — метод исследования объекта с помощью микроскопа, формирующего изображение объекта путем механического перемещения зонда и регистрации взаимодействия между зондом и поверхностью объекта.

Примечания

1. Термин «сканирующая зондовая микроскопия» является общим термином для таких понятий, как «атомно силовая микроскопия» (АСМ), «сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля» (СОМБП), «сканирующая микроскопия ионной проводимости» (СМИП) и «сканирующая туннельная микроскопия» (СТМ).
2. С помощью микроскопов, применяемых в различных методах СЗМ, можно получать изображения объектов с пространственным разрешением от атомарного, например в СТМ, до 1 мкм, например в сканирующей термо-микроскопии.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения]

Метод электрочувствительной зоны; метод Коултера (electrical zone sensing; Coulter counter) — метод определения распределения частиц по размерам и размеров частиц, находящихся в растворе электролита, основанный на измерении импульса электрического напряжения, возникающего при прохождении частицы через отверстие малого диаметра в непроводящей перегородке (стенке ампулы).

Примечания.

1. Амплитуда импульса напряжения пропорциональна объему частицы, прошедшей через отверстие.
2. Прохождение частицы через отверстие происходит под действием давления потока жидкости (электролита) или электрического поля.
3. Для определения размеров нано объектов необходимо, чтобы размер отверстия соответствовал размерам нано диапазона.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Хроматография гельпроникающая (size-exclusion chromatography) —  вид жидкостной хроматографии, в котором разделение веществ основано на элюировании молекул определенного гидродинамического объема в колонке хроматографа, заполненной пористым не адсорбирующим материалом, размеры пор которого соответствуют размерам этих молекул.

Примечание. ГПХ можно применять совместно с методом для определения размеров и распределения по размерам объектов по динамическому рассеянию света (ДРС).

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Осаждение частиц в жидкости, центробежное;  дифференциальное центрифугирование; ДЦ (centrifugal liquid sedimentation; CLS; differential centrifugal sedimentation; DCS) — метод разделения частиц жидкости в зависимости от их размеров и плотности под действием центробежных сил в сепарирующем роторе центрифуги.

Примечание. В зависимости от плотности частиц с помощью ЦОЖ можно выделить частицы размером от 2 нм до 10 мкм для дальнейшего определения их размеров и распределения частиц по размерам. ЦОЖ обеспечивает одновременное выделение частиц, отличающихся друг от друга по размерам не более чем на 2%.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Фракционирование в силовом поле, проточное (field low fractionation) — метод разделения и анализа частиц, основанный на явлении распределения частиц суспензии, пропускаемой через узкий канал, в соответствии с их размерами и подвижностью под действием внешнего силового поля.

Примечания.

1. Силовое поле может быть различной природы, например гравитационным, центробежным, электрическим, магнитным.
2. В процессе ПФП или после его завершения с помощью соответствующего устройства определяют размеры нано объектов и их распределение по размерам.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Электрометр с цилиндром Фарадея; ЭЦФ (Faraday-cup aerosol electrometer; FCAE) — устройство для измерения электрических зарядов аэрозольных частиц.

Примечание. Цилиндр Фарадея состоит из приемника заряженных аэрозольных частиц, помещенного в экранирующий заземленный каркас и соединенного с электрометром и счетчиком частиц.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Система анализа дифференциальной электрической подвижности частиц; САДЭП (differential obilitynalysing system; DMAS) — система, применяемая для измерения распределения субмикронных частиц аэрозоля по размерам, состоящая из КДЭП, нейтрализатора, счетчика частиц, соединительных трубок, компьютера и программного обеспечения.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Классификатор дифференциальной электрической подвижности частиц; КДЭП (differential electrica lmobility classifier; DEMC) — устройство, распределяющее аэрозольные частицы по размерам в соответствии с их электрической подвижностью и регистрирующее частицы только определенных размеров.

Примечание. Принцип распределения частиц по размерам в КДЭП основан на уравновешивании электрического заряда каждой частицы с силой ее аэродинамического сопротивления при прохождении через электрическое поле. Электрическая подвижность частиц зависит от их размеров, режимов работы и формы КДЭП. Размер частицы можно определить по числу зарядов на ней.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Счетчик конденсированных частиц; СКЧ (condensationparticlecounter; CPC) — устройство, измеряющее счетную концентрацию частиц в аэрозоле.

Примечания.

1. Диапазон размеров частиц, регистрируемых СКЧ, — от нескольких нанометров до нескольких сотен нанометров.
2. CКЧ можно использовать совместно с классификатором дифференциальной электрической подвижности (КДЭП).
3. В некоторых случаях СКЧ называют счетчиком ядер конденсации (СЯК).

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]