Плоскость скольжения; плоскость сдвига (slipping plane; shear plane) — абстрактная плоскость, представляющая собой границу раздела твердой и жидкой фаз, относительно которой происходит движение жидкой фазы под внешним воздействием.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Плотность электрического заряда, поверхностная (electric surface charge density) — величина, характеризующая распределение электрического заряда по поверхности объекта вследствие удельной адсорбции ионов из жидкой массы или диссоциации поверхностных групп ионов.

Примечание. Единица измерения поверхностной плотности электрического заряда — Кл/м

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Подвижность электрофоретическая (electrophoreticmobility) — отношение электрофоретической скорости к напряженности электрического поля.

Примечания.

1. Положительно заряженные частицы перемещаются к отрицательному электроду (катоду), а отрицательно заряженные частицы — к положительному электроду (аноду).
2. Единица измерения электрофоретической подвижности – м/(В·с).

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Скорость электрофоретическая (electrophoreticvelocity) — скорость частиц во время электрофореза.

Примечание. Единица измерения электрофоретической скорости — м/с.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Дифракция отраженных электронов; ДОЭ (electron backscatter diffraction; EBSD) — явление обратного рассеяния электронов, возникающее вследствие взаимодействия электронов с атомными плоскостями кристаллической решетки объекта, при облучении объекта электронным пучком.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Дифракция рентгеновского излучения (X-raydiffraction) — явление рассеяния рентгеновского излучения в результате взаимодействия с электронами вещества, лежащее в основе метода рентгеноструктурного анализа, в котором из сформированной дифракционной картины получают информацию о структуре исследуемого объекта.

Примечание. С помощью метода рентгеноструктурного анализа можно определить размеры области когерентного рассеяния объекта.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Метод пьезоэлектрического микровзвешивания; МПМ (quartz crystal microbalance; QCM) — метод измерения массы вещества с помощью кварцевых микровесов, основанный на зависимости частоты колебаний кварцевого резонатора (датчика микровесов) от количества вещества, нанесенного на его поверхность.

Примечание. С помощью кварцевых микровесов измерения можно проводить в условиях вакуума, в газовой или жидкой средах.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Интерферометрия двойной поляризации; ИДП (dual polarization interferometry; DPI — метод исследования на молекулярном уровне слоев вещества, адсорбированного на поверхности световода интерферометра, основанный на регистрации степени затухания волн лазерного луча при смене направлений поляризации.

Примечания.

1. Быстрое переключение направлений поляризации позволяет в режиме реального времени исследовать химические реакции, происходящие в определенном слое вещества, адсорбированного на поверхности световода.
2. ИДП применяют для исследования информационных изменений белков или биомолекул в процессе их взаимодействия с окружающей средой.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спектроскопия гамма-резонансная; мёссбауэровская спектроскопия — метод исследования объекта, основанный на эффекте резонансного поглощения без отдачи атомным ядром моноэнергетического гамма-излучения, испускаемого радиоактивным источником.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]