Спектроскопия рентгеновская, энергодисперсионная (energy-dispersive X-ray spectroscopy) — метод исследования объекта, основанный на регистрации энергетических спектров отдельных фотонов и их числа и построении цифровой гистограммы, описывающей распределение интенсивности рентгеновского излучения по энергии фотонов.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спектроскопия ультрафиолетовая фотоэлектронная (ultraviolet photoelectrons pectroscopy) — метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра, основанный на регистрации энергетических спектров фотоэлектронов, испускаемых с поверхности объекта, облученного ультрафиолетовым излучением.

Примечание. В лабораторных электронных спектрометрах для УФЭС в качестве источника ультрафиолетового излучения используют газоразрядные лампы, чаще всего гелиевые. В этих источниках, в зависимости от давления газа и тока разряда, генерируется одна из двух интенсивных линий с энергией фотонов 21,2 эВ (He I) и 40,8 эВ (He II). Также в УФЭС применяют источники синхротронного излучения.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спектроскопия флуоресцентная (fluorescence spectroscopy) — метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате явления фотолюминесценции, вызванного в изучаемом объекте посредством возбуждения его светом.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спектроскопия флуоресцентная, корреляционная (fluorescence correlation spectroscopy) — метод исследования объекта, основанный на корреляционном анализе флуктуаций интенсивности флуоресценции.

Примечание.  С помощью ФКС определяют среднее число люминесцирующих частиц, среднее время их диффузии в исследуемом объеме вещества, концентрацию и размер частиц (молекул).

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спектроскопия фотолюминесцентная; ФЛ-спектроскопия (photoluminescence spectroscopy; PL spectroscopy) — метод исследования объекта, основанный на изучении спектров электромагнитного излучения, возникающего в результате поглощения и испускания фотонов исследуемым объектом.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спектроскопия характеристических потерь энергии электронами; СХПЭЭ (electron energy loss spectroscopy; EELS) — метод исследования объекта с помощью электронного спектрометра, основанный на регистрации энергетических спектров неупруго рассеянных электронов, испускаемых моноэнергетическим источником и потерявших фиксированные порции энергии в процессе взаимодействия с объектом.

Примечания.

1. Значения энергетических спектров электронов, полученные с помощью СХПЭЭ, будут близки к значениям, полученным с помощью электронной Оже-спектроскопии (ЭОС) или рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС), а пики характеристических потерь энергии электронов расположены вблизи пика упруго отраженных электронов.
2. Значения энергетических спектров неупруго рассеянных электронов зависят от энергии электронного пучка, угла его падения на поверхность исследуемого объекта, угла рассеяния электронов и свойств исследуемого объекта.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спектроскопия ядерного магнитного резонанса; ЯМР-спектроскопия (nuclear magnetic resonance spectroscopy; NMR spectroscopy) — метод исследования физических и химических свойств атомов и молекул объекта, основанный на явлении ядерного магнитного резонанса.

[ГОСТ Р 56647-2015/ISO/TS 80004-6:2013. Нано технологии. Часть 6. Характеристики нано объектов и методы их определения. Термины и определения]

Спинтроника — направление отрасль современной электроники, основанная на использовании спиновых эффектов и квантовых свойств спина электронов, характеризуются двумя квантовыми состояниями (спин вверх и спин вниз). Изменение ориентации спинов происходит за счет воздействия высокой плотности тока, проходящего через сверхтонкие ферромагнитные структуры (сэндвичи). Ориентация спинов остается неизменной, если источник поляризованного тока выключается, поэтому спинтронные устройства очень широко используются как головки считывания, устройства памяти на явлении ГМО и туннельном МО, генераторы переменного напряжения, контролируемые по току, транзисторы на эффекте поля и тому подобное.

[Полная энциклопедия.  (Электронный ресурс). Режим доступа: https://www.polnaja-jenciklopedija.ru/nauka-i-tehnika, свободный.]

Среднее число агломерации ANN (Average Agglomeration Number) —   среднее число частиц, образующих агломерат.

[В. В. Арсланов. Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии, М.: ИФХЭ РАН, 2009. — 261 c]

Средний диаметр удельной площади поверхности — диаметр, вычисленный как отношение объема частицы к удельной площади адсорбционной поверхности.

Примечание. Настоящее определение применимо для непористых сферических частиц при проведении исследований с помощью БЭТ-метода.

[ГОСТ ISO/TS 80004-2-2017. Нанотехнологии. Часть 2. Нанообъекты. Термины и определения]